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<正>南京电子器件研究所通过外延层转移的方法在国内首次实现了InP HBT与Si MOSFET两种晶体管的单片异构集成,突破了InPHBT外延层转移、三维高密度异构互联、异构集成电路设计等关键技术,研制出13 GSps 1:16异构集成量化降速芯片,如图1所示,共包含453个0.7μm InP HBT器件与1036个0.18μm Si MOSFET器件。表1展示了不同工艺的量化降速电路性能的比较,可以看出本文报道的异构