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设计了一种主动抑制系统，用以控制APD在单光子计数检测时的死区时间。该系统主要利用ECL（射随耦合逻辑）电平电路对雪崩脉冲进行快速甄别从而判断光子到来与否，再将比较器输出的脉冲通过整形处理输出给延时电路，利用CPLD搭建延时电路，输出两路延时脉冲，两路延时脉冲分别输出给主动抑制电路和快恢复电路，以完成APD死区时间的控制。此主动抑制系统，有效地将死区时间缩短在45 ns；将光子计数率提高到20 MHz。