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为了便于测量和计算，通过系统X射线衍射实验研究和理论分析，改进了X射线衍射透射及反射几何关系图，推导出定量计算公式，并创立了晶体取向测量图形。使用这种定量计算公式及图形可以非常简便、迅速而又准确地得到晶体取向的反射衍射斑点靠和透射衍射斑点钟。为了便于精确测量和更有效地利用高级测试仪器，在x射线衍射仪日常工作的同时，使用原有线焦点等实验方法进行了累计x射线衍射斑点拍照研究。结果表明，用射线源线焦点拍照的精确度与点焦点相同，操作方便，并可大大缩短调机和开机时间，充分发挥了X射线衍射仪的作用．