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对国内外不同的电缆屏蔽料生产的电境内外半导电屏蔽层的电阻率（或电阻）进行了实验研究．实验结果表明：电缆屏蔽层的电阻率与测量时间、测试温度均存在相关性。由此分析认为，IEC60840和IEC60502．以及国家标准GB／T12706-2002中关于半导电屏蔽层电阻率的测试方法．存在测试条件规定不明确的问题。并提出了执行该标准的具体建议。