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论述了为大批量检测半导体晶片的霍尔系数、电阻率、载流子浓度和迁移率等电学参数而组建的由三台Keithley公司的带GPIB接口仪器和一套Oxford公司的带RS-232接口仪器组成的霍尔自动测试系统;使用Borland公司的可视化快速应用程序开发工具C++Builder开发了霍尔自动测试软件,该软件具有典型Windows程序那样的全中文图形用户界面、菜单驱动的集成工作环境和完整的dBASE数据库管理功能;使用ActiveX自动化技术实现了在C++Builder中对只能使用ObjectBench BA