探讨首次发病精神分裂症患者脑皮质厚度和平均曲率特征及与临床症状的相关分析。
方法纳入首次发病精神分裂症患者86例（患者组）和与之年龄、性别及受教育年限相匹配的健康对照者49名（对照组）。所有被试者磁共振T1脑结构数据通过FreeSurfer自动处理软件，计算脑皮质厚度和平均曲率并进行差异检验，并与PANSS阳性症状分、阴性症状分和总分进行Pearson相关分析。
结果患者组双侧中央沟皮质厚度高于对照组[左侧：(1.897±0.102) mm与(1.814±0.108) mm；右侧：(1.871±0.119) mm与(1.784±0.108) mm]，差异有统计学意义(F=24.24、18.59，均P<0.000 67)，双侧脑岛环状沟上段[左侧：(2.495±0.122) mm与(2.591±0.138) mm；右侧：(2.602±0.133) mm与(2.710±0.131) mm]和左侧横向侧副沟前段[(2.599±0.250) mm与(2.782±0.238) mm]皮质厚度均低于对照组，差异有统计学意义(F=16.75、22.61、18.86，均P<0.000 67)；患者组左半球仅中央后回[(0.166±0.026) mm-1与(0.150±0.011) mm-1]和颞下回[(0.186±0.016) mm-1与(0.177±0.011) mm-1]平均曲率显著高于对照组(F=14.52、13.08，均P<0.000 67)；右半球平均曲率显著高于对照组的脑区为额中回、额极横回和沟、眶外侧沟、前扣带回和沟、枕颞沟中段和舌沟、脑岛环状沟上段和楔叶、楔前叶、枕上回(F=14.20、14.42、12.75、15.02、14.80、12.16、13.74、16.70、12.77，均P<0.000 67)。左侧横向侧副沟前段皮质厚度与PANSS总分呈正相关(r=0.322, P<0.01)；右侧前扣带回和沟平均曲率与PANSS阴性症状分呈显著负相关(r=-0.262，P<0.05)；右侧脑岛环状沟上段平均曲率与PANSS阳性症状分呈显著正相关(r=0.240，P<0.05)；右侧侧副沟和舌沟平均曲率与PANSS总分呈显著负相关(r=-0.260，P<0.05)。
结论首次发病精神分裂症患者多个脑区的皮质厚度和平均曲率存在异常，且部分脑区脑形态学改变与患者临床症状严重程度相关。