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分别采用溅射和蒸发镀膜法在Hg1-xMnxTe试样表面形成了Au/Hg1-MnxTe和A1/Hg1-xMnxTe接触,并用Aligent4155cI-V,测试仪对其I-V特性进行了测量,随后对试样在10%NH4F:10%H2O2:H2O中进行了钝化处理,并对处理后的试样再次进行了I-V,测量,对于测试结果用热电子发射-扩散理论进行了分析。结果表明:Au与Hg1-xMnxTe形成了良好的欧姆接触,而AI与Hg1-xMnxTe形成了具有整流特性的肖特基接触,其肖特基势垒的理论推算值为0.38eV。钝化处理后的