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本文阐述了正交偏振干涉测量技术的基本原理和实验方法。Fizeau干涉仪的输出激光束经过线偏振镜后变为线偏振光，调整偏振方向让光束的偏振态分别平行于KDP晶体的o轴和e轴，得到两幅干涉图。通过这两幅干涉图的差值得到晶体的折射率分布不均匀性。该检测技术借助可改变输出激光偏振态的大口径干涉仪精确地测量晶体在切割方向上。光折射率和e光折射率的偏差。本文所采取的方法是在大口径干涉仪的小端口放入可改变偏振方向的线偏光镜。本文通过对一批330mm×330mm的大口径KDP晶体的折射率均匀性测量验证了该方法。