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研究在磁控溅射工艺中工作压强和溅射时间恒定的情况下,溅射电流的变化对钛膜与基底Gd结合能力的影响。通过拉伸法测量薄膜与基体间的附着强度,利用扫描电镜观察Ti膜表面形貌。结果表明：溅射电流达到3 A时,Ti膜表面平整,与基体的结合力最强。由此说明,溅射电流的变化对钛膜与基底Gd结合能力的影响较大。