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STS2106A数字集成电路测试系统的开发及应用
STS2106A数字集成电路测试系统的开发及应用
来源 :集成电路通讯 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lihai_feng
【摘 要】
:
本文以一款CMOS专用数字集成电路为例,介绍STS2106A数字集成电路测试系统开发过程以及使用中的重点注意事项。
【作 者】
:
余向阳
陈远金
【机 构】
:
中国兵器工业第214研究所
【出 处】
:
集成电路通讯
【发表日期】
:
2009年1期
【关键词】
:
数字集成电路
测试系统
适配器
参数编程
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本文以一款CMOS专用数字集成电路为例,介绍STS2106A数字集成电路测试系统开发过程以及使用中的重点注意事项。
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