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针对MPCVD金刚石膜K-Ka波段（18~40GHz）微波电子器件领域的应用需求，以及探索金刚石膜介电性能与品质之间的关系的需要，制备了5个金刚石膜样品，并建立了一套K波段分体圆柱谐振腔微波介电性能测试装置。使用Raman光谱表征金刚石膜质量，采用K波段分体圆柱谐振腔测量金刚石膜的介电性能，并与Ka波段的结果进行比较。结果表明，不同品质的样品介电损耗在3.8×10–5~76.8×10–5范围内，且介电损耗与Raman半峰宽密切相关。同时，高品质金刚石膜K波段介电损耗高于Ka波段，而低品