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本文提出了一种对具有重复频率的超快电信号的测量技术,利用Pockels效应,可对二维平面的高速器件的超快电信号进行无损无扰取样测量,其时间分辨率远超过目前世界上最高水平的取样示波器。本文阐述了此系统的原理及应用,并着重对系统的性能进行分析,指出它的实现可望成为测量快速电信号的一种新型技术。