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本论文介绍了RBR过程控制技术在超大规模集成电路（UISI）制造中的化学机械抛光（CMP）这一关键工艺中的应用。CMP工艺中的RBR控制是利用CMP工艺后检测获得的抛光质量数据来调整下一片硅片抛光的输入工艺参数的方法实现的。由于影响CMP过程的参数比较多，并且存在一些复杂的变化过程（如抛光垫老化、更换抛光垫等），使得其RBR控制是一个多目标、多输入、多输出的控制过程。本文结合CMP工艺分析了RBR控制，并以双指数权重调整方法为例描述了用于CMP的RBR控制算法，最后介绍了RBR控制在CMP工艺应用中的最新