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基于STM32F407V系列单片机系统,以C语言为设计平台,设计开发了一种瓦楞纸的压痕强度测试仪器。该仪器具有多种功能,主要用于各类大型尺寸瓦楞纸箱的环、压痕等参数的检测与测试。该仪器用途广泛,是纸板、瓦楞纸板生产厂家、科研院校、检测机构等不可缺少的重要测试仪器。测试结果表明,该控制系统具有较高的测量精度。