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用长距离显微镜和摄象系统获取的表面细观裂纹图像 ,由于光线等因素的影响 ,常模糊不清 ,且夹杂大量的伪劣纹 .为了得到与宏观变形响应同步的表面裂纹的定量描述 ,必须对图像进行技术处理 ,重置像素点的像素值 ,去除伪裂纹 .对表面裂纹的处理主要分两大步进行 :一是根据像素点的灰度值的不同提取表面裂纹 .这样 ,由表面气泡引起的圆孔等缺陷也同时被提取出来 ;二是去除伪劣纹 (如气泡引起的圆孔 ) ,同时避免真裂纹的丢失