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Improved empirical DC Ⅰ-Ⅴ model for 4H-SiC MESFETs
【机 构】
:
KeyLabofEducationMinistryforWideBand-GapSemiconductorMaterialsandDevices
【出 处】
:
中国科学:F辑英文版
【发表日期】
:
2008年8期
【基金项目】
:
Supported by the National Defense Basic Research Program of China (Grant No. 51327010101 )
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