SiC MOS结构空间电荷区杂质离化的研究

来源 :西安电子科技大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:liuyu890501
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在研究SiC MOS表面空间电荷区杂质不完全离化的过程中引入了Frenkel-Pool效应,并建立了在电场作用下SiC杂质离化的新模型.基于对一维Poisson方程的求解,分析了场致离化对SiC MOS结构特性的影响,结果表明,电场的作用会提高SiC中杂质离化浓度,使析冻效应减弱,并最终导致SiC MOS器件特性发生变化.
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