ICP–OES常见干扰类型及校正方法探讨

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【摘要】

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电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP–OES）越来越多地应用于各类物质的分析检测.测定复杂样品时,仪器出现各种干扰问题是影响测定结果准确性的主要因素.根据仪器原理及样品进入IC

【作者】

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杨开放

【机构】

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镇江市环境监测中心站

【出处】

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化学分析计量

【发表日期】

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2016年3期

【关键词】

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电感耦合等离子体发射光谱仪干扰校正 ICP–OES interference calibration

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电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP–OES）越来越多地应用于各类物质的分析检测.测定复杂样品时,仪器出现各种干扰问题是影响测定结果准确性的主要因素.根据仪器原理及样品进入ICP 的顺序,对可能出现的化学干扰、物理干扰、记忆效应、电离干扰和光谱干扰进行原因分析.结合具体实例探讨各类干扰相应的校正方法,可以较好地消除干扰对测定结果的影响.

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