切换导航
文档转换
企业服务
Action
Another action
Something else here
Separated link
One more separated link
vip购买
不 限
期刊论文
硕博论文
会议论文
报 纸
英文论文
全文
主题
作者
摘要
关键词
搜索
您的位置
首页
期刊论文
超薄基区SiGeHBT电流传输模型
超薄基区SiGeHBT电流传输模型
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zm850311
【摘 要】
:
从玻尔兹曼方程出发,分析了SiGeHBT超薄基区中载流子温度,扩散系等参量的变化,建立了不同于常规基区宽度的新的超薄基区SiGeHBT电流传输模型。
【作 者】
:
孔德义
魏敬和
【机 构】
:
东南大学无锡应用科学与工程研究院
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2000年1期
【关键词】
:
HBT
电流传输
锗化硅
超薄基区
HBT
Transport
SiGe
下载到本地 , 更方便阅读
下载此文
赞助VIP
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
从玻尔兹曼方程出发,分析了SiGeHBT超薄基区中载流子温度,扩散系等参量的变化,建立了不同于常规基区宽度的新的超薄基区SiGeHBT电流传输模型。
其他文献
一种采用定点DSP实现的1.8kbpsMBE—LPC声码器
提出了一种结合MBE(多带激励)模型和LPC(线性预测编码)模型的模型的1.8kbps声码器。在这种声码器中,采用LPC特征参数来代表语音帧的频谱,利用LPC残在音提取和多带清浊音判决,采用MBE模型合成语音,并在高频浊
期刊
MBE-LPG
语音合成
声码器
数字信号处理
Multi|Band Excitation|Linear|Prediction Codi
高速SOIMOS器件及环振电路的研制
采用SOI/CMOS工艺成功地研制出沟道长度为0.8μm的SOI器件和环振电路,在5和3V电民压时51级环振的单门延迟时间分别为82ps和281ps,速度明显高于相应的体硅电路,由于采用硅边缘注入技术,寄生边缘管得到较好的抑制
期刊
SOI
MOS器件
环振电路
SOI
MOS
high speed
ring|oscillator
fabrication
筑牢思想根基聚焦突出问题
中共中央政治局常委、中央书记处书记刘云山在部分省区“两学一做”学习教育工作座谈会上强调,要认真贯彻习近平总书记重要指示精神,落实全面从严治党要求,筑牢思想根基、聚焦突
期刊
聚焦
中共中央政治局常委
学习教育工作
中央书记处
从严治党
座谈会
刘云山
总书记
SIMOX薄膜材料的红外光谱特性和薄膜厚度的非破坏性测量方法
报道了SOI材料薄膜厚度的非破坏性快速测量方法,详细地研究了SIMOX材料的红外吸收光谱特性,求出了特征峰对应的吸收系数,提出利用红外吸收光谱测量SIMOX绝缘埋层厚度的非破坏性方法,并根据离子
期刊
SIMOX薄膜
红外光谱
非破坏性测量
薄膜厚度
SIMOX film
IR spectra
nondestructive method of measur
切实提高工作水平全面打赢脱贫攻坚战
中共中央总书记习近平7月20日在银川主持召开东西部扶贫协作座谈会并发表重要讲话,他强调,东西部扶贫协作和对口支援,是推动区域协调发展、协同发展、共同发展的大战略,是加强区
期刊
攻坚战
脱贫
中共中央总书记
区域协调发展
对口支援
协同发展
区域合作
产业布局
“会社员”用语例解(十七)
“会社员”用语例解(十七)大连常青向顾客道歉时再做辨解,会给顾客带来不快。如果顾客的投诉毫无道理,就要拒绝其要求,此时礼貌和严肃是必弁您这种过分的要求,我们不能答应,请原谅憾
期刊
会社
例解
毫无道理
“世相语”“若者语”荟萃(7)
期刊
世相
青少年犯罪
团体组织
复制的程序
大学体育
社会环境变化
个人主义化
动画片
表现手法
脸部表情
日本语言文化浅说(3)——来自汉语的日语训读词汇
众所周知,日语汉字的读音有两种:一种是音读,模仿中国古代汉字发音的读音和在模仿中产生差异的惯用音。另一种是训读,即日本固有的读音(训读音也并非完全是日本固有的读音,因其不
期刊
日语
训读音
汉字
词汇
外来语
建筑工程管理体系下的项目化教学模式探索
随着现代生产水平的提高,建筑工程发展迅速,建筑业也占据越来越高的地位,本文对在建筑工程管理体系下,如何正确实行项目化教学,教学模式中的漏洞以及采用何种措施更好地教学进行分
期刊
建筑工程管理体系
项目化教学模式
粗糙界面对超薄栅MOS结构的直接隧穿电流的影响
研究了粗糙界面对电子隧穿超薄栅金属-氧化物-半导体场效应晶体管的氧化层,笃于栅厚为3nm的超薄栅MOS结构的界面用高斯粗糙面进行模拟来获取界面粗糙度对直接随穿电流的影响,数
期刊
粗糙度
直接随穿电流
场效应晶体管
超薄栅MOS结构
roughness
direct tunneling
field-effect transistor
与本文相关的学术论文