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期刊论文
抗PID工艺对多晶电池片表面质量的影响
抗PID工艺对多晶电池片表面质量的影响
来源 :科技创新与应用 | 被引量 : 0次 | 上传用户:dreambox007
【摘 要】
:
PID现象和电池片表面的减反射膜的折射率有关,提高反射层的折射率可以有效地降低PID现象的发生。文章研究的主要内容是在不提高生产成本并且基本不降低效率的情况下,通过调整
【作 者】
:
刘东林
周水生
沈方涛
【机 构】
:
山西潞安太阳能科技有限责任公司
【出 处】
:
科技创新与应用
【发表日期】
:
2014年35期
【关键词】
:
电位诱发衰减、极性化(PID效应)
减反射膜
折射率
多晶电池
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PID现象和电池片表面的减反射膜的折射率有关,提高反射层的折射率可以有效地降低PID现象的发生。文章研究的主要内容是在不提高生产成本并且基本不降低效率的情况下,通过调整沉积时间与气体流量,来提升电池片的折射率至2.13,以达到抗PID目的。
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