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利用最优化思想描述了子单元级冗余的最优分配模型，用遗传算法给出了全局最优解．该模型中考虑了影响成品率的两个因素：缺陷的平均密度D和支撑电路的面积占单元总面积的比率δ．通过实例分析得到，在D保持不变时最优冗余分配数随δ的增加在减少，单元的成品率随δ的增加在下降；在δ保持不变时最优冗余分配数随D的增加而增加，单元的成品率随D的增加在下降．