论文部分内容阅读
论述了层次型IP芯核不同测试模式之间的约束关系，给出了层次型IP芯核的测试壳结构，提出了一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的启发式测试存取链优化配置方法。该方法可有效减小测试数据分组数量和被测芯核的测试时间。使用片上网络测试平台，在测试基准电路集ITC’02中的基准电路p22810上进行了实验验证。