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目的：通过对恒牙列初期安氏Ⅱ类1分类错[牙合]儿童的上颌后牙区微种植体支抗植入区域进行分析，测量骨皮质厚度，为儿童临床种植体支抗植入提供理论依据，对植入点的选择提供一定参考。方法选取40例恒牙列初期安氏Ⅱ类1分类儿童患者的锥束CT影像资料，男、女各20例，分别测量双侧上颌第二前磨牙与第一恒磨牙根间区距牙槽嵴顶3～9mm处，共7个平面的骨皮质厚度，对结果进行统计分析。结果上颌第二前磨牙与第一恒磨牙根间区的骨皮质厚度在7个测量平面中，距牙槽嵴顶高度4mm处最小（P＜0．05），5mm以上的骨皮质厚度随距牙槽嵴