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基于单容错编码的数据布局已经不能满足存储系统对可靠性越来越高的要求。对基于多容错编码的数据布局的研究受到了广泛的关注，并且出现了一些多容错的布局算法，如多维Parity，DH1，DH2等。但这些布局算法普遍存在冗余度较差、计算负载大等缺点。DP-RAID是一种基于水平方向和对角方向双重奇偶校验的双容错数据布局算法。该布局计算负载小，实现简单，但该布局要求校验条纹长度为素数。本文对DP-RAID进行扩展，使其能够应用于校验条纹长度为素数减一的环境。与其他双容错布局算法比较表明，该布局算法在保证同样可靠性的情