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目的：采用事件相关电位（ERP）方法考察社会悲伤与愉快情绪的加工时程特点，以探明社会情绪能否引起负性偏向。方法：16名在校大学生观看社会悲伤、中性与愉快情绪图片，同时记录EEG，离线分析比较三种图片诱发的P2与N2等ERP成分的峰潜伏期、波幅及其头皮分布。结果：与愉快情绪相比较，社会悲伤性情绪使P2潜伏期缩短（177．9→168．8ms），N2波幅增大（-3．4→4．2μV）；P2、N2波幅均表现为右半球优势（左、右半球P2分别为：4．2与5．2μV；N2：→3．1与-3．7μV）。结论：社会情绪引起负性