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通过银镜反应在聚乙烯薄膜一面镀银膜,用不同入射角进行掠入射X射线衍射测量,利用对应银的衍射峰出现的条件验证了X射线穿透深度计算公式在进行高分子薄膜表征中的可行性.
聚乙烯薄膜中X射线穿透深度计算方法的验证
【摘 要】
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通过银镜反应在聚乙烯薄膜一面镀银膜,用不同入射角进行掠入射X射线衍射测量,利用对应银的衍射峰出现的条件验证了X射线穿透深度计算公式在进行高分子薄膜表征中的可行性.
【机 构】
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长春工业大学化学工程学院,中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室
【出 处】
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物理实验
【发表日期】
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2010年5期
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