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检测51名辅助生育患者子宫内膜印迹基因IGF2的杂合性丢失状况和印迹丢失状况．结果显示IGF2基因的杂合率为58．82％，印迹丢失率为41．67％．印迹丢失组与印迹正常组的胚胎种植率分别为0和33．33％，两组临床妊娠率分别为0％和50．00％．表明佑门基因的印迹丢失对子宫内膜接受性有重要影响．是胚胎种植失败的重要候选因素．