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存储器内建自测试（MBIST）技术在存储器测试中具有广泛应用,针对传统寄存器传输级描述语言设计BIST控制器的过程相对繁琐、专用EDA工具定义算法的灵活性差和电路结构固定等问题,提出采用高层次综合工具设计BIST控制器的方法。以SRAM为对象,采用C语言描述MARCH算法,并采取端口分配、流水线优化和数组分割等优化方案完善设计。最后借助FPGA平台验证评估了高层次综合工具输出的RTL级代码电路的功能可靠性和规模可控性。相对于传统的两种方法,摆脱了算法实现和电路结构设计的局限性,缩短了算法实现周期。