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荧光显微镜测量结果的准确性,受仪器的线性动态范围、光场均匀性及光源稳定性等因素影响。运用荧光薄膜材料对荧光显微镜进行实验验证,发现荧光线性、均匀性及稳定性等荧光特性对于荧光显微镜分析测量效果十分重要。对荧光薄膜材料的光谱特性、线性、均匀性及光稳定性等方面进行研究,建立了荧光薄膜材料荧光特性的测量方法,对荧光显微镜校准方法进行了初步探索,为荧光显微镜的校准奠定了基础。