论文部分内容阅读
高分辨率光电探测相机探测能力的提高受杂散光的限制, 杂散光在很大程度上决定了探测能力的底限。由于光学系统的杂散光受到诸多因素影响, 必须在最终指标上进行测试, 如: 点源透射率(PST), 用于全系统性能指标控制。利用星模拟器超大动态范围的光辐射输出, 设计了一台光学系统杂散光PST测试设备, 解决了单个探测器动态范围无法覆盖108的问题; 在一定信噪比下, 分析了电子倍增CCD杂散光PST测试能力。经分析杂散光PST测试范围可达到10-2～10-8, 满足高分辨率光电探测相机杂散光测试的要求。