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实验发现SrTiO3环形压敏电阻器试样的复阻抗图在高频段有一段圆弧而同样工艺的厚圆片形试样却没有此现象．实验分析得出：该奇异现象的出现并不能简单地归为试样的形状，也不能归为一种新的弛豫机制．分析试样的电阻、电抗频率特性发现出现该现象的主要原因是该试样的表面层结构特征导致其电学性能参数随频率的变化与试样的厚薄有一定的关系．因此，该现象又从另一侧面证实了SrTiO3压敏电阻器试样具有表面层型结构．