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基于图像识别的原理和方法,采用扫描电子显微镜获取了三种Ni-SiC复合镀层的SEM图像。对图像进行预处理后,提取了微粒的特征参数,并得到了微粒位置及数量的效果图。在此基础上,对三种Ni-SiC复合镀层中微粒分布情况进行了评价。通过测试证实:图像识别方法识别复合镀层中微粒的准确度较高,提出的微粒分布评价系数可以用来反映复合镀层中微粒的分布情况。