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偏移成像是将由地下目标产生的地震数据归位到反射界面从而产生地下结构的像。但由于受到采集系统孔径、复杂上覆介质和成像目标倾角等因素的影响，成像结果常常是地下结构的畸变了的像。地震照明和分辨率分析为上述因素对地震成像结果的影响提供了定量的描述方法。点弥散函数中包含地震照明和分辨率分析的全部信息。染色算法建立地下某一特定结构与地震波场和地震数据之间的对应关系。本文利用染色算法计算点弥散函数并进一步获得角度域照明信息，同时通过点弥散函数与原始成像结果反卷积的方法对成像结果予以校正。展示了SEG盐丘模型的相关计算结