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采用特定的“导电基片／绝缘膜层”微透镜阵列内芯材料，研究其表面的介质上电润湿（EWOD）特性。利用图像采集与数据处理方法测量了0～60V电压范围内硫酸钠水溶液液滴在“不锈钢基片／Parylene绝缘层”芯片表面的接触角变化数据，通过EWOD理论模型计算得到硫酸钠溶液的表面张力值，此值与理论值相吻合。进而计算了内芯与液滴的界面张力，这种方法可用于一般固液界面张力的测量。