GaN薄膜生长实时监控系统的实现

来源 :半导体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xiexiangjun
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分析了在ECR-MOCVD装置上外延生长GaN单晶薄膜的工艺过程特点和在此过程中影响GaN结晶质量的主要因素.在此基础上,设计了一套监控系统,用于GaN外延生长的工艺流程监控,并提出了一种合适的工艺流程监控策略.
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