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基于品质因数的时域测量方法，本文提出了一种新的可以片上集成的品质因数测量电路，不仅在特定频率实现品质因数的精确测量，还可在保持电路精度的前提下，覆盖一定待测信号的频带。在采用之前提出的可重构电路的基础上，本文改进了峰值探测器的补偿方式，首次进行了系统精度和扩频所需的理论分析，有效指导了电路的设计。另外，数字控制逻辑的改进，将总功耗降低7.5%。本文首次通过集成电路的方式在0.35μmCMOS工艺下实现此电路，在电源电压5V，输入信号频率1MHz的条件下，实现品质因数的相对误差小于±0.2%，并且