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采用Langmuir探针方法对氢等离子体中电子密度和电子能量概率函数随射频功率的变化进行研究，发现电子密度在射频功率增加过程中出现两次跳跃。通过发射光谱法测得氢等离子体H。、Hp和H．三条谱线强度比值的变化，进一步验证了密度跳跃现象。该现象说明氢等离子体的放电模式发生了从电感耦合到电容耦合再到螺旋波模式的转变。从电子与氢分子的相互作用和NagoyatypeIII型（N一型）天线电场耦合作用两方面解释密度跳跃现象。随着输入功率的增加，电子与氢分子相互作用增强，使电子密度发生跃变；当天线横向电场Ey取最大值，