光束自动对准技术是扫描干涉场曝光系统中的关键技术之一,两曝光光束位置与角度的重合程度直接影响所制作光栅掩模的槽型质量。针对光束对准过程中光束调整的两个运动维度之间存在相互耦合的情况,推导了存在耦合时对准算法的收敛条件,并分析了光路中反射镜与解耦平面之间存在的装调误差对对准性能的影响。分析得出,装调误差降低了光束对准系统性能,甚至导致对准算法发散,通过调节光路中反射镜M2和解耦平面的距离L2与反射镜M1和解耦平面的距离L1
【机 构】
:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所国家光栅制造与应用工程技术研究中心,吉林长春130033中国科学院大学大珩学院,北京100049
论文部分内容阅读
光束自动对准技术是扫描干涉场曝光系统中的关键技术之一,两曝光光束位置与角度的重合程度直接影响所制作光栅掩模的槽型质量。针对光束对准过程中光束调整的两个运动维度之间存在相互耦合的情况,推导了存在耦合时对准算法的收敛条件,并分析了光路中反射镜与解耦平面之间存在的装调误差对对准性能的影响。分析得出,装调误差降低了光束对准系统性能,甚至导致对准算法发散,通过调节光路中反射镜M2和解耦平面的距离L2与反射镜M1和解耦平面的距离L1的比值L2/L1可以优化系统的收敛性能。实验结果表明,当L2/L1较大时对准系统调节性能较差,收敛速率较低;当L2/L1较小时光束对准系统可以快速地收敛到目标位置,有效地对光束进行对准调节。推导证明与模拟分析可为光束对准系统以及整个曝光光路的设计提供理论指导。
其他文献
针对1∶50000比例尺无地面控制点的立体测绘应用和当前卫星姿态测量精度低的问题,采用国际首例的线面阵电荷耦合器件阵列测绘体制,建立了完善的像移补偿模型,设计实现了高强度、高刚度、高稳定度的测绘光学平台,实现了光学平台各相机参数的标定,突破了传输型无地面控制点定位关键技术,满足无地面控制点1∶50000比例尺地图测制,实现了国家基础框架测绘。针对未来更高比例尺的应用需求,提出了双面阵推扫立体测绘成像系统,并针对超级互补金属氧化物半导体面阵传感器应用提出了相关要求,展望了未来的技术发展。
在压缩感知理论的基础上,分析了单点探测计算成像系统的整体结构、相关观测矩阵的设计和图像重构算法,并针对相关算法进行了Matlab仿真。仿真实验结果表明,压缩感知用于单点探测计算成像可以在减少采样的同时还能清晰复原图像。在实验室内搭建了远距离对外成像系统样机,并在室内利用平行光源进行了成像实验。实验结果表明,该成像系统具有较好的空间分辨率。还对单点探测计算成像进行了更进一步的扩展,通过在成像系统后面
The increase in both power and packing densities in power electronic devices has led to an increase in the market demand for effective heat-dissipating materials with a high thermal conductivity and thermal expansion coefficient compatible with chip mater
A novel band-rejection filter based on a Bragg fiber with a defect layer is proposed. A defect layer is introduced in the periodic high/low index layers in the cladding of the Bragg fiber, which results in large confinement loss for some resonant waveleng
桑迪亚国家实验室的两名科学家,已用一种三激光多级技术离化测定受激喇曼光谱学(IDSRS),首次分析大型多元子分子苯。
本文处理了含激波的柱对称或球对称抛射体超音速统流Mach-Zehnder干涉图分析的Abel变换问题。
利用经典系综模型,研究了椭圆偏振激光脉冲驱动的氙原子强场双电离。计算结果表明,Xe2 的末态动量分布强烈依赖于载波包络相位(CEP)。在该激光脉冲驱动下,双电离事件中同时存在次序双电离(SDI)和非次序双电离(NSDI)。SDI产率随CEP增大先减少后增大,NSDI产率随CEP增大先增大后减小,两者均呈周期变化,其周期为π。轨迹分析显示,NSDI事件仍然是由再碰撞而发生,并且该过程对应的物理机制能够由三步模型很好地解释;另外,SDI过程中两电子的电离时间以及NSDI过程中发生再碰撞的时间均强烈依赖于CEP
表面形貌测量在光学元件加工制造和表面功能特性评定等方面有着非比寻常的意义。设计一种三波长轮换的表面形貌测量系统, 与传统的白光相移干涉扫描等方法相比较, 能够有效扩大测量深度以及形貌精度。多波长测量中波长带来的误差会极大的影响测量的精度, 需要准确的校准波长。围绕三波长轮换表面形貌干涉测量系统, 提出了利用平面镜干涉图校准三个滤光片波长的方法。通过对粗糙度样本的测量实验及计算结果显示: 用校准后的波长计算标准方波样板得到的表面粗糙度数据与未使用为校准波长测得的结果相比其精度提高了1.3%, 与标准数据相比
过去的十年激光多普勒气流计(LDA)得到发展。采用激光多普勒气流计结合适当的测量法就可测定速度瞬时值随时间的变化,精度优于1%。激光多普勒气流计的这种特性可作为长度测量装置的基础。装置通常配备一台微型计算器,以便储存瞬时值,并浓缩测量信息,测定局部时间平均值和溫流度。如果给微型计算器附加一适当的积分程序,就可在流控扫描非常密集时,通过对瞬时值的积分来实现长度测量。