【摘 要】
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分析了"日盲"紫外增强型电荷耦合装置(SBUV-ICCD)噪声的来源及特点.考虑SBUV-ICCD工作时系统增益高,单光电子的响应会扩散到CCD邻近像素中去,故将SBUV-ICCD作为线性时不变系
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分析了"日盲"紫外增强型电荷耦合装置(SBUV-ICCD)噪声的来源及特点.考虑SBUV-ICCD工作时系统增益高,单光电子的响应会扩散到CCD邻近像素中去,故将SBUV-ICCD作为线性时不变系统,引入单光电子冲激响应到SBUV-ICCD信噪比计算中,利用傅里叶变换原理推导出其信噪比模型.模型采用了二维高斯函数拟合SBUV-ICCD单光电子冲激响应的方法,较传统间接分析的方法更为简单适用.分析了增益对SBUV-ICCD信噪比的影响,测量了辐照度在10.3～810.6 pW/cm~2内变化时SBUV-ICCD的信噪比.实验结果表明,该模型的标准差为0.78,可用于SBUV-ICCD的性能分析.
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