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以2个优选的甜仁山杏的幼果为试材,以生产中主栽大扁杏品种"优一"和野生山杏(山苦1、山苦2)为对照,通过冷冻处理,以胚褐变率、电导率和MDA值为指标,研究了甜仁山杏优株的抗寒性.结果表明,供试2个优选的甜仁山杏品系胚褐变率低,半致死温度(LT50)较对照低0.51~0.94℃,供试5个品系抗寒性的顺序依次为山甜1>山甜2>山苦1、山苦2>"优一".