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多晶硅/二氧化硅界面的俄歇谱分析
多晶硅/二氧化硅界面的俄歇谱分析
来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:net917208
【摘 要】
:
利用扫描俄歇微探针对多晶硅/二氧化硅界面进行分析,发现晶硅/二氧化硅界面不是突变的,而存在着一个过渡区。根据多晶硅薄膜的成核理论,分析了该过渡产生的原因,并利用“幸运载流子
【作 者】
:
赵杰
张安康
【机 构】
:
东南大学微电子中心,中国华晶电子集团公司
【出 处】
:
固体电子学研究与进展
【发表日期】
:
1996年3期
【关键词】
:
俄歇电子能谱
超大规模IC
多晶硅
二氧化硅界面
Auger Electron Spectroscopy
Transition Region
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利用扫描俄歇微探针对多晶硅/二氧化硅界面进行分析,发现晶硅/二氧化硅界面不是突变的,而存在着一个过渡区。根据多晶硅薄膜的成核理论,分析了该过渡产生的原因,并利用“幸运载流子”模型,定量分析该过渡区对MOS结构热流注入效应的影响。
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