高温CW半导体激光器的阈值电流

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用载流子速率方程分析了高温CW半导体激光器(LD)阈值电流(Ith)与温度(T)的关系.数值计算结果分别给出了与T有关的腔内损耗、双分子复合和俄歇过程以及载流子泄漏效应对Ith的贡献大小.
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采用微波等离子体气相沉积(MPCVD)在商用3 mm×3 mm×1 mm高温高压合成(HPHT)Ib型(100) 金刚石衬底上同质外延生长B掺杂金刚石薄膜,并在此材料的基础上用磁控溅射和电子束蒸镀技术制备了不同结构参数金刚石肖特基势垒二极管。测试结果表明:所生长的金刚石薄膜表面非常平整,可以看到比较明显的原子台阶;所制备的器件具有明显的整流特性,肖特基电极直径100 μm,肖特基电极和欧姆电极间距10 μm,外加电压-15 V,300 K时测得器件正向导通电阻20 Ω,反向饱和电流近似为10-6 A,反向
根据菲涅耳衍射积分,研究了拉盖尔高斯光束经过单缝衍射后的光强分布,发现拉盖尔高斯光束经过单缝后衍射条纹会出现空心和发生弯曲,并与实验结果进行了比较。研究了拉盖尔高斯光束经过单缝后的螺旋谱,发现单缝的存在会使螺旋谱展宽。给出了拉盖尔高斯光束经过单缝衍射后的相位分布。研究结果可用于涡旋光束拓扑电荷数的测量。
国际性《第三届微微秒现象专题会》于1982年6月16日至18日在德国的加尔密-巴顿刻尔兴举行。R. M. Hochstrasser(费城宾夕法尼亚大学)和W. Kaiser(慕尼黑技术大学)负责组织了这次会议。由K. B. Eisenthal(纽约哥伦比亚大学)和A. Laubereau(拜罗伊特大学)负责拟定这次会议议程。来自五大洲大约200名科学家参加了这次会议。会议议程包括21篇特邀学术报告,30篇短报告和48篇墙报交流报告。
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透镜作为光学系统中最基本的光学元件,其中心厚度的加工误差和装配精度将直接关系到整个光学系统的成像质量.对镜面间距非接触测量技术进行了研究,重点介绍了图像法、轴向色散法、差动共焦法、低相干光干涉法等方法的测量原理和研究进展,指出了这些方法的优缺点和适用范围.这些方法都能满足一般光学系统的精度要求,其中低相干光干涉法测量精度最高,轴向色散法、差动共焦法次之,图像法测量精度最低.对光学镜面间距测量技术的发展趋势进行了论述.
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采用平面波展开法研究了含点缺陷正方结构二维函数光子晶体的带隙结构、缺陷模式和缺陷模式的本征场分布。选取介质柱的折射率为空间位置的分布函数,其参数可通过改变施加电场、光场的强度来调节。研究结果表明,通过调节介质柱参数,能够实现带隙结构、带隙位置、缺陷模式及缺陷模式的本征场分布的可调,该研究为相关光学器件的设计提供了理论依据和设计方法。
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To evaluate the light field display system with a liquid crystal display (LCD) and a holographic functional screen (HFS), the voxel theory based on the ray tracing is used. By analyzing the voxels defined by the cases of corresponding pixels overlapping c
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根据米散射理论,设计了以532 nm激光器为光源、CCD为探测器的极化浊度计。对粒径为2 μm的聚苯乙烯标准粒子(PSL)进行检测,得到了PSL的散射相函数,将其与偏振角为0°和90°的2 μm球形粒子的理论散射相函数进行对比,拟合度分别达到87.3%与88.4%。采用Chahine迭代算法反演得到PSL的粒径为1.94 μm,接近其真实值。将极化浊度计与宽范围颗粒粒径谱仪和扫描电镜的检测结果进行对比,结果表明,该装置检测精度高,且不受人为主观因素影响,对颗粒粒径的准确检测有重要意义,在相关领域应用前景较
叙述了声光锁模组件的主要构件,激励源——声光调制电源的组成。介绍了高速中规模集成数字频率合成器、晶体管高频大功率放大器的设计。
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