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研究了Nb2O5对ZnO压敏材料电学性能的影响.当x(Nb2O5)从0增加到1%时,ZnO压敏电阻的击穿电压从209 V/mm降至0.70 V/mm,40 Hz时,样品电阻从0.21 MΩ降至48.3 Ω,1 kHz时的相对介电常数从831增大到42 200.晶界势垒高度测量表明:在实验范围内,Nb对势垒高度的影响较小.ZnO晶粒的变大是压敏电压急剧降低和介电常数增大的主要原因.对Nb掺杂量的增加引起样品阻抗减小的根源进行了解释.