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[会议论文] 作者：冀运景,,
来源： 年份：2004
本文针对AOI虚焊的检查进行分析,探讨虚焊检查的难点及对应的方法。AOI检查所覆盖的电路板的不良分为两类,一类称为元件类不良,错件、缺件、反向、偏位、多件、破损等等。另...
[会议论文] 作者：冀运景,
来源：2011中国高端SMT学术会议 年份：2011
本文对导致AOI漏报和误报的原因进行分析，一方面方便读者加深对AOI技术的了解，编程时从这些方面考虑降低漏报和误报；另一方面也提供给读者AOI选型时的参考。...
[期刊论文] 作者：魏嘉莉,王瑞丰,冀运景,罗守华,,
来源：电子测量技术 年份：2021
现有电解电容极性检测通常分为内圆检测和极性检测两步流程。现有基于GHT的检测方法在内圆亮度非常接近外部时,无法准确定位内圆;基于滑动窗口平滑度的极性检测方法没有考虑极性区域亮度低、噪声大以及非极性区域存在高亮污染这3种情况,应用范围有限。针对现有......
[期刊论文] 作者：王瑞丰,魏嘉莉,周静,冀运景,罗守华,,
来源：电子测量技术 年份：2021
贴片元件AOI自动复判可提高检测的直通率和精度,降低人工目检带来的时间与经济成本。Chip元件作为PCB电路贴片元件中的最常用元件,其错误类型繁多,包括焊接的少锡、多锡、缺焊、水平与垂直偏移,以及本体的缺件、错件等问题。针对Chip元件,提出了一种基于AI的AOI......
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