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[期刊论文] 作者：刘华松,罗征,刘幕霄,姜玉刚,王利栓,季一勤,张锋,陈德应,
来源：红外与激光工程 年份：2004
对Si- SiO2基底薄膜系统进行数值实验，将SiO2薄膜的能损函数与透过率光谱和反射椭圆偏振光谱进行对比，讨论了在红外透过率光谱和反射椭偏光谱中激发的SiO2薄膜TO和LO振动模式。...
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