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[学位论文] 作者：刘衍捷,,
来源：苏州大学 年份：2006
随着微电子技术的发展,电子产品的集成度日益增大,速度越来越快,功率增大,I/0数逐渐增多,对封装提出了更高的要求,封装的密性性直接影响了IC芯片制造的合格和可靠,直接影响微...
[期刊论文] 作者：刘衍捷,汪一鸣,
来源：中国无线电 年份：2005
蓝牙测试模式是蓝牙规范的一部分,无论是蓝牙电路的设计还是应用开发,都离不开测试模式的使用.本文介绍了测试模式的实验室实现和在此模式下蓝牙物理层(基带)波形的观测.这里...
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