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[会议论文] 作者：利泽坚;秦建业;朱琪;,
来源：中国集成电路测试学术年会 年份：1990
专用集成电路往往是包含施工时序逻辑单元的复杂数字系统。若以故障复盖率作为测试完全性的评估标准，而采用传统的六级ｓ－ａ－０，ｓ－ａ－１的故障检测方法来生成测试向量，会遇到很大的困难。该文提......
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