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[期刊论文] 作者：陈兆龙,华平和,,
来源：电子测量技术 年份：1985
前言近些年来,对微处理器的功能测试提出了许多方法。然而,具体采用哪些方法和编制怎样的功能测试程序,是与测试场合和测试工具密切相关的。如下表所示,测试场合是指测试部...
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