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[学位论文] 作者：史若桦,
来源：中国科学院长春物理研究所 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 年份：1995
该文利用等离子体技术和波导技术确定了银膜和SiO膜的介电常数和厚度、液晶盒的厚度、向列相液晶、扭曲向列相液晶和铁电液晶的介电常数,由此确定液晶的折射率.讨论了铁电液...
[期刊论文] 作者：史若桦,
来源：液晶通讯 年份：1993
引言本文着重介绍Yamada等人的研究工作。反铁电液晶(AFLC)在电场作用下呈现三稳态,在理论和实际方面已引起人们的注意。从显示应用来看,反铁电液晶排列稳定,并具有陡阈值特...
[期刊论文] 作者：史若桦,
来源：液晶通讯 年份：1993
波兰技术物理学院J’Ozef Zmija教授应长春物理所五室的邀请,于93年1月8日至12日来我所参观访问,在此期问,Zmija教授作了题为“PDLCD的原理、制备、特性以及应用”的学术报...
[期刊论文] 作者：郭建新,史若桦,
来源：液晶通讯 年份：1994
最近几年,光波导方法(包含衰减全反射法)在液品研究领域里展现了强大的活力——它能够测量液晶的光学常数、分析液晶排列特性,揭示液晶在光场及电场作用下的行为等等,但一般...
[期刊论文] 作者：郭建新,史若桦,
来源：液晶通讯 年份：1994
本文提出了对液晶盒内液晶指向矢分布非常敏感的全反射光波导方法。对半泄漏波导方法和新方法进行了比较。模拟发现新方法对指向矢扭曲角及一些细微差别的敏感度要优于半泄漏...
[期刊论文] 作者：史若桦,虞家琪,
来源：发光学报 年份：1993
本文报道利用578.4nm的脉冲光泵浦,在室温和77K下,观察到LiYF_4:Nd~(3+)单晶中的上转换蓝光。由发光强度与泵浦光强度平方的直线关系,确定此上转换过程是双光子过程.通过对吸...
[期刊论文] 作者：史若桦,黄锡珉,
来源：液晶通讯 年份：1994
本文测量了反铁电液晶电光特性,得到阀值电压为30V。利用示波器观察到施加电压后透过率的变化,得到上升时间为140μs,下降时间的为160μs。通过在SmA相保持恒温一段时间,得到...
[期刊论文] 作者：史若桦,黄锡珉,
来源：液晶通讯 年份：1994
在液晶折射率小于衬底折射率的条件下,利用漏模技术测量液晶的折射率以及液晶盒的厚度。这种技术是利用漏波导的衬底辐射模式,激发的漏模产生从衬底辐射出的m线,将测量的相应...
[期刊论文] 作者：史若桦,黄锡珉,等,
来源：液晶通讯 年份：1995
本文利用表面等离子体技术和导模技术测定了银膜、SiO膜的介电常数和厚度，从而确定了液晶的介电常数和液晶盒厚度。首次将集成光学的漏模技术（m线方法）应用到测量液晶参数上，测定......
[期刊论文] 作者：郭建新,史若桦,等,
来源：液晶通讯 年份：1995
液晶作为一种最有前途的平板显示材料，其分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的。本文提出了一种新的研究分子排列特性的光波导方法－－全反射光波导方......
[期刊论文] 作者：郭建新,史若桦,等,
来源：液晶通讯 年份：1995
液晶作为一种最有前途的平板显示材料，其分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的，衰减全反射法（简称ATR方法）最早应用于对金属薄膜特性的研究，后来逐渐......
[期刊论文] 作者：郭建新,史若桦,黄锡珉,
来源：液晶通讯 年份：1994
本文提出了对液晶盒内液晶指向矢分布非常敏感的全反射光波导方法。对半泄漏波导方法和新方法进行了比较。模拟发现新方法对指向矢扭曲角及一些细微差别的敏感度要优于半泄漏...
[期刊论文] 作者：史若桦,黄锡珉,姜岭秀,
来源：液晶通讯 年份：2004
在液晶折射率小于衬底折射率的条件下,利用漏模技术测量液晶的折射率以及液晶盒的厚度。这种技术是利用漏波导的衬底辐射模式,激发的漏模产生从衬底辐射出的m线,将测量的相应...
[期刊论文] 作者：郭建新,史若桦,黄锡珉,
来源：液晶通讯 年份：1995
液晶作为一种最有前途的平板显示材料,其分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的。衰减全反射法（简称ATR方法）最早应用于对金属薄膜特性的研究,后来......
[期刊论文] 作者：史若桦,黄锡珉,王宗凯,
来源：液晶通讯 年份：1994
本文测量了反铁电液晶电光特性,得到阀值电压为30V。利用示波器观察到施加电压后透过率的变化,得到上升时间为140μs,下降时间的为160μs。通过在SmA相保持恒温一段时间,得到...
[期刊论文] 作者：郭建新,黄锡珉,史若桦,
来源：液晶通讯 年份：1994
液晶作为一种最有前途的平板显示材料,其光学特性及与之相关的分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的。衰减全反射法(简称ATR方法)最早应用与对金...
[期刊论文] 作者：史若桦,黄锡珉,郭建新,
来源：液晶通讯 年份：1995
本文利用表面等离于体技术和导模技术测定了银膜、SiO膜的介电常数和厚度,从而确定了液晶的介电常数和液晶盒厚度。首次将集成光学的漏模技术(m线方法)应用到测量液晶参数上,...
[期刊论文] 作者：郭建新,史若桦,马凯,黄锡珉,
来源：液晶通讯 年份：1994
最近几年,光波导方法(包含衰减全反射法)在液品研究领域里展现了强大的活力——它能够测量液晶的光学常数、分析液晶排列特性,揭示液晶在光场及电场作用下的行为等等,但一般...
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