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[期刊论文] 作者：曹耀龙,,
来源：半导体技术 年份：2012
微波组件产品广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素。通过对55个微波组件产品的失效案例进行统计分析,得出了微波组件失效的原因,其...
[期刊论文] 作者：曹耀龙,黄杰,,
来源：半导体技术 年份：2011
为了使温度循环试验在有效提高电子组件的可靠性方面得以广泛应用,基于温度循环试验的机理,对电子组件温度循环试验的关键参数(温度范围、循环次数、保持时间、温变速率、风...
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